|
Docu-menta >
Buscar por Materia Thin-film characterization
Mostrando resultados 1 a 1 de 1
| Fecha de publicación | Título | Autor(es) | | 6-jul-2022 | Energy-band-structure calculation by below-band-gap spectrophotometry in thin layers of non-crystalline semiconductors: A case study of unhydrogenated 𝑎-Si | Ballester, M.; Márquez, A.P.; García-Vázquez, C.; Díaz, J.M.; Blanco, E.; Minkov, D.; Fernández-Ruano, S.M.; Willomitzer, F.; Cossairt, O.; Márquez, E. |
Mostrando resultados 1 a 1 de 1
|
