|
Docu-menta >
Buscar por Materia thin-film characterization
Mostrando resultados 1 a 2 de 2
| Fecha de publicación | Título | Autor(es) | | 14-oct-2022 | Application of the Holomorphic Tauc-Lorentz-Urbach Function to Extract the Constants of Amorphous Semiconductor Thin Films | Ballester, M.; García, M.; Márquez, A.P.; Blanco, E.; Fernández, S.; Minkov, D.; Kattsaggelos, A.K.; Cossairt, O.; Willomitzer, F.; Márquez, E. |
| 29-oct-2021 | Optical Characterization of H-Free a-Si Layers Grown by rf-Magnetron Sputtering by Inverse Synthesis Using Matlab: Tauc–Lorentz–Urbach Parameterization | Márquez, E.; Ruíz-Pérez, J.J.; Ballester, M.; Márquez, A.P.; Blanco, E.; Minkov, D.; Fernández, S.; Saugar, E. |
Mostrando resultados 1 a 2 de 2
|
