|
|
Docu-menta >
Buscar por Autor Aguyao, P.
Mostrando resultados 1 a 1 de 1
| Fecha de publicación | Título | Autor(es) | | 2004 | In-beam tests of the AMS RICH prototype with 20 A GeV/c secondary ions | Baret, B.; Aguyao, P.; Aguilar Benitez, M.; Arruda, L.; Barao, F.; Barrau, A.; Belmont, E.; Berdugo, J.; Boudoul, G.; Borges, J.; Buenerd, M.; Casadei, D.; Casaus, J.; Delgado, C.; Diaz, C.; Derome, L.; Eraud, L; Gallin-Martel, L.; Giovacchini, F.; Goncalves, P.; Lanciotti, E.; Laurenti, G.; Malinine, A.; Mana, C.; Marin, J.; Martinez, G.; Menchaca-Rocha, A.; Palomares, C.; Pimenta, M.; Protasov, K.; Sanchez, E.; Seo, E-S; Sevilla, I; Torrento, A.; Vergas-Trevino, M. |
Mostrando resultados 1 a 1 de 1
|
