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| Fecha de publicación | Título | Autor(es) | | 19-dic-2023 | Mid-Infrared (MIR) Complex Refractive Index Spectra of Polycrystalline Copper-Nitride Films by IR-VASE Ellipsometry and Their FIB-SEM Porosity | Márquez, E.; Blanco, E.; Mánuel, J.M.; Ballester, M.; García-Gurrea, M.; Rodríguez-Tapiador, M.I.; Fernández, S.; Willomitser, F.; Katsaggelos, A.K. |
| 25-jun-2023 | Optical Properties of Reactive RF Magnetron Sputtered Polycrystalline Cu3N Thin Films Determined by UV/Visible/NIR Spectroscopic Ellipsometry: An Eco-Friendly Solar Light Absorber | Márquez, E.; Blanco, E.; García-Gurrea, M.; Cintado Puerta, M.; Domínguez de la Vega, M.; Ballester, M.; Mánuel, J.M.; Rodríguez-Tapiador, M.I.; Fernández, S. |
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