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Fecha de publicaciónTítuloAutor(es)
14-oct-2022Application of the Holomorphic Tauc-Lorentz-Urbach Function to Extract the Constants of Amorphous Semiconductor Thin FilmsBallester, M.; García, M.; Márquez, A.P.; Blanco, E.; Fernández, S.; Minkov, D.; Kattsaggelos, A.K.; Cossairt, O.; Willomitzer, F.; Márquez, E.
6-jul-2022Energy-band-structure calculation by below-band-gap spectrophotometry in thin layers of non-crystalline semiconductors: A case study of unhydrogenated 𝑎-SiBallester, M.; Márquez, A.P.; García-Vázquez, C.; Díaz, J.M.; Blanco, E.; Minkov, D.; Fernández-Ruano, S.M.; Willomitzer, F.; Cossairt, O.; Márquez, E.
19-ago-2021Further Increasing the Accuracy of Characterization of a Thin Dielectric or Semiconductor Film on a Substrate from Its Interference Transmittance SpectrumMinkov, D.; Márquez, E.; Angelov, G.; Fernandez Ruano, S.; Saugar, E.
29-oct-2021Optical Characterization of H-Free a-Si Layers Grown by rf-Magnetron Sputtering by Inverse Synthesis Using Matlab: Tauc–Lorentz–Urbach ParameterizationMárquez, E.; Ruíz-Pérez, J.J.; Ballester, M.; Márquez, A.P.; Blanco, E.; Minkov, D.; Fernández, S.; Saugar, E.
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