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Buscar por Autor Saugar, E.

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Fecha de publicaciónTítuloAutor(es)
19-ago-2021Further Increasing the Accuracy of Characterization of a Thin Dielectric or Semiconductor Film on a Substrate from Its Interference Transmittance SpectrumMinkov, D.; Márquez, E.; Angelov, G.; Fernandez Ruano, S.; Saugar, E.
29-oct-2021Optical Characterization of H-Free a-Si Layers Grown by rf-Magnetron Sputtering by Inverse Synthesis Using Matlab: Tauc–Lorentz–Urbach ParameterizationMárquez, E.; Ruíz-Pérez, J.J.; Ballester, M.; Márquez, A.P.; Blanco, E.; Minkov, D.; Fernández, S.; Saugar, E.
1-nov-2021Sputtered Non-Hydrogenated Amorphous Silicon as Alternative Absorber for Silicon Photovoltaic TechnologyFernández, S.; Gandía, J.J.; Saugar, E.; Gómez-Mancebo, M.B.; Canteli, David; Molpeceres, C.
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