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Título : Characterization of chalcopyrite Cu(In,Al)Se2 thin films grown by selenization of evaporated precursors
Autor : Martín, Sofía
Guillén, Cecilia
Palabras clave : Cu(In,Al)Se2
Chalcopyrite
Evaporation
Selenization
Roughness
Stoichiometry
Fecha de publicación : 2011
Editorial : Elsevier
Citación : Energy Procedia 10 (2011) 182–186
Resumen : Chalcopyrite Cu(In,Al)Se2 (CIAS) thin films were prepared by a two-stage process onto soda-lime glass substrates. Different Cu/(Al+In) atomic ratios have been evaporated in a vacuum chamber to be subsequently heated with elemental selenium in a quasi closed graphite box at 530 ºC. The results on the dependence of the crystallite size, preferential orientation, roughness, optical transmittance and aluminium incorporation as a function of the stoichiometry have been studied, concludiong that a Cu/(Al+In) atomic proportion near the 1.07 value seems to be the best choice to favour crystalline CIAS formation without substantial CuSe secondary phase segregation.
URI : http://documenta.ciemat.es/handle/123456789/2597
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